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實(shí)驗(yàn)室服務(wù)

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半導(dǎo)體器件的失效分析流程,國(guó)際國(guó)內(nèi)公認(rèn)的方法是從非破壞性試驗(yàn)手段到破壞性試驗(yàn)手段

具體可參考下列圖表:

儀準(zhǔn)參與建設(shè)的國(guó)內(nèi)知名分析實(shí)驗(yàn)室有???           

無(wú)錫華進(jìn)?????                北京智芯微

北京軟件檢測(cè)????           華測(cè)檢測(cè)

美信檢測(cè)????                  


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